検査・計測
AI波及AI需要との関係：先端半導体の歩留まり向上ニーズから検査需要は拡大しているが、AI投資拡大に連動する形での恩恵となるため
製造された半導体の品質・性能を測定・検査する装置群。外観検査・テスター・プローブカード・欠陥検査など用途は幅広い。微細化が進むほど検査の重要性が高まり、歩留まり向上・品質保証に不可欠。AI需要拡大による設備投資増が波及する形で需要が伸びる。アドバンテスト（テスター）・レーザーテック（マスク欠陥検査）などが代表企業。
主なサブ分類
外観検査および測長テスタープローブカード欠陥検査