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6951AI波及

日本電子

検査・計測 › 外観検査および測長
検査・計測装置電子顕微鏡
AI需要との関係:走査型電子顕微鏡・透過型電子顕微鏡で半導体微細構造解析・不良解析に使われ微細化進展とともに需要が拡大するため

業界内ポジション

走査型電子顕微鏡(SEM)・透過型電子顕微鏡(TEM)で世界有数のシェアを持つ科学機器・計測機器メーカー。半導体の微細構造観察・不良解析・プロセス検証に欠かせない装置を提供する。NMR・質量分析なども展開。

基本財務データ

時価総額

32億円

PER

17.0倍

PBR

2.0倍

配当利回り

1.7%

売上高

20億円

営業利益

4億円

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